为了判明Si含量对活性的影响,配制了不同含Si(wt.%)量的钎剂,发现在含SiO2为0.01%时即能观察得到母材表面有液体金属层析出。当SiO2含量超过3%,加热氟铝酸钾铝钎剂时有棕色沉淀析出,铝钎剂混浊不再透明,熔点也相应上升。在作钎接接头试验时,发现含SiO2大于3%时针缝可以自钎而无需添加钎料。这种钎缝的形成系由析出Si与母材形成的Al-S共晶层在表面张力作用下吸入钎缝所致。其自钎的接头如下图所示。由图可见,两种针缝均呈亚共晶组织,显然是析出的元素Si和母材相互作用而得,由图(b)“T”形接头更可明显看出母材溶入针缝的情形。
由上述实验可以看出K2SiF6中加入AF3稳定性显著提高。随着氟化铝含量的增加,K2SiF6的稳定性也随之进一步提高。因此体系中很可能有稳定的mKF.nAlF3piF4型三元化合物生成,而Si显然进入络氟阴离子以氟硅铝酸根的形式存在。实际上K2SiF在铝钎剂中的含量只占1~3wt.%,所以它是完全稳定的。仿照上述实验,用GeO2代替SiO2,发现氟铝酸钾铝钎剂刚一熔化即在母材上析出明亮的液体金属层,其活性亦甚高。显然这是析出的金属Ge与母材形成的共晶。